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镀层测厚仪
参考价:

型号:T-450

更新时间:2024-12-03  |  阅读:1391

详情介绍

T-450 镀层测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。


产品性能

稳定性 :T-450 有着良好的长期稳定性,不需要经常校准仪器。

无需制备样品 : 无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

综合性能 : 镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能


技术参数

T-450参数.png


T-450 镀层测厚仪工作特点


·测量 5 层 (4 层镀层 + 底材层 ) 镀层,同时分析 15 种元素, 自动修正 X 射线重叠谱线


·测量精度高、稳定性好,测量结果精确至 uin


·快速无损测量,测量时间短,最快 10s 内得出测量结果


·可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析


·材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析


·强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值等


·结果输出:直接打印或一键导出到 PDF、Excel 文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等


·测量位置预览功能;高分辨率彩色 CCD 样品观察系统,标准光学放大倍数为 30 倍


·提供全球服务及技术支持

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