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X射线镀层测厚仪
参考价:

型号:Thick 880

更新时间:2023-07-20  |  阅读:892

详情介绍

X射线镀层测厚仪性能:

1.任意多个可选择的分析和识别模型

2.多变量非线性回收程序

3.内置高清晰摄像头

4.可以同时分析几十种以上元素,五层镀层

 

技术参数:

·元素分析范围:硫(S)~铀(U)

·检出限:可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品

·分析含量:一般为ppm到99.9%

·测试时间:10~100s

·多道分析器:4096道址多道分析器 JPSpec-DPP

·环境温度:15~30°C

·相对湿度:35~70%

 

X射线镀层测厚仪应用领域:电镀厂、电子电器厂、钢铁厂/合金厂、质量技术监督局、汽车制造、检测中心

产品优势和特点:

1.易于使用,一键操作即可获得克拉等级及组成成分的分析结果

2.有助于识别镀层成分的创新型功能

3.机身结构小巧结实,外形美观,适合放置于陈列展室

4.按下按钮的数秒之内即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

5.使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

6.用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心

7.Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享

8.有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠地保证客户使用

 

 
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