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真空型X荧光光谱仪
参考价:

型号:EDX 8000H

更新时间:2023-07-20  |  阅读:876

详情介绍

EDX 8000H真空型X荧光光谱仪具有制样简单、分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点,随着 X 射线荧光光谱分析技术的不断推广,利用 X 射线荧光光谱仪分析仪检测已成为很多行业质量控制的主要手段。


分析方法

有损分析光谱法:AAS、ICP、AFS 在前处理方面跟化学滴定法相差不多,都必须把样品制成溶液,其对微量元素分析精度高,要求分析测试人员素质高专业性强、测试时间短、人为误差少等特点。用于实验室环境条件下。


EDX 8000H真空型X荧光光谱仪技术参数

元素分析范围 : 钠(Na)~ 铀(U)

分析元素含量范围 :PPM~99.99%(不同材质,分析范围不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

环境温度 :15-30℃

同时分析元素 : 一次可同时分析几十种元素

测试时间 :50-200s

电源 : 交流 220V±5v,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率 :129±5eV

样品腔尺寸 :400*340*80mm

仪器尺寸:700*510*336mm

仪器重量:56kg

分析精度:0.05%(含量高于 96% 以上的精品,21 次测试稳定性)

高真空系统、高分辨率SDD硅漂移数字多道型电制冷探测器


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