贵金属检测仪原理：

由高能X射线激发原子电子层，使得原子核外电子发生跃迁，造成二次X射线能量释放，因不同的元素释放的能量具有不同特性，探测系统测量这些能量和数量，从而计算元素含量。

主要组成部件：

高压-光管-探测器与前放-主放-DPP-控制模

块-通信模块-显示系统等

对贵金属进行分析和克拉级别鉴定

目前使用XRF分析仪对贵金属进行化学成份分析及纯度成色判断已经成为一种广泛应用、极受欢迎，并且有国家标准的支持，且性能可靠的方法。与火花试金法和化学试剂测试法相比，使用XRF对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。

优势和特点：

。超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

。易于使用，一键操作，即可获得克拉等级及组成成份的分析结果

。有助于识别镀金样件的创新型功能

。机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

贵金属检测仪硬件性能及优势：

超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作

超快检测速度、超人性化界面

超清摄像头

光管电压5KV - 50KV

高压电源0 ~ 50KV Spellman(USA)

光管管流0μA~ 1000μA

滤光片可选择多种定制切换

探测器Si-pin

分辦率Si-pin160土5eV

多道分析器JPSPEC-DPP

样品腔尺寸310*280*